《嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析》是2012年出版的图书，作者是武晔卿。

适用于交通控制、电力电子、消费电子、医疗电子、控制电子、军工产品等以电子、机电一体化为主体内容的相关技术领域，既可作为工程技术人员的技术参考书，也可作为相关专业的高年级本科生、研究生、教师的设计参考书。

• 中文名 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析
• 定价 36.00元
• 别名 嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析(副标题)
• 出版社 北京航空航天大学
• 作者 武晔卿

内容介绍

　　《嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析》介绍了嵌居约入式系统设计中，哪些地方最可能带来可靠性隐患，以及从设计上如何进行预防。内容包括:启动过程和稳态工作中星跳控交求初际好案亲志的应力状态差别等可靠性基础知识及方法;降额参数和降额因子的选择方法;风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范;PCB板布线布局冲、系统结构的电磁兼容措施;电子产品制造过程中的失效因素(包括EOS、ESD、MSD等)及预防、检验方法;可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。同时，针对相关内容进行实际的来自案例分析，以使读者更好地掌握这些知识。