《X射线荧来自光光谱仪》是2008年化学工业出版社出版的图书，作者是罗立强和詹秀春。

• 书名 X射线荧光光谱仪
• 作者 罗立强、詹秀春、李国会
• 类别 图书 >> 工业技术 >> 仪表工业 >> 仪器
• 出版社 化学工业出版社
• 出版时间 2008年1月1日

简介

　　来自本书分十二章介绍了X射线荧光光谱分析的原理，何答挥生得数什率洋贵川仪器主要部件，定性与定量分绿个道划析方法，基体校正与数据处理方法，样品制备技术，具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则等。内容丰富、新颖、翔实，在探测器技术、基体校正、样品制备、仪器维护等章节具有特色。

　　本书可供X射线荧光光谱分析工作360百科者学习参考，同时也可作为高等学校与仪器分析相关专业师生的参考书。

目录

　　第一章 绪论

　　第一节 X射线荧光光谱的产生及其特点

　　第二节 X射线荧光分析技术的新应用

　　一、在生物、生命及环境领域中的应用

　　二、在材料及毒性物品监测中的应用

　　第三节 X射线荧光光谱仪研制进展

　　参考文献

　　第二章 基本原理

　　第一节 特征X射线的产生与特性

　　一、特征X射线

　　二、特征谱线系

　　三、谱线相对强度

　　导团动银粒针批充象厚四、荧光产额

　　第二节 X射线吸收

　　一、X射线衰减

　　二、吸收边

　　三、吸收跃变

　　四、质量衰减系数的计算

　　第三节 X射线散射

　　一、相干散射

　　二、非相干散射

　　第四节 X射线荧光光谱分析原理

　　第五节 X射线衍射分析

　　参考文献

　　第三章 激发源

　　第一节 常规X射线光管

　　一、光管结构与工作原理

　　二、连续X射线谱

　　三、特征X射线谱

　　四、光管特性

　　第二节 液体金属阳极X射线光管

　　第三节 冷X射线光管

　　第四节 单色与选择激发

　　一、牛营依滤光片

　　二、二次靶

　　第五节 同位素源

　　第六节 同步辐射光源与粒子激发

　　第七节 聚束毛细管X射线透镜

　　第八节 X射线激光光源

　　参考文献

　　第四章 探测器

　　第一节 波长色散探测器

　　一、流气式气体正比计数器

　　二、NaI闪烁计数器

　　三、波长色散探测器的逃逸峰

　　第二节 能量探测器

　　一、能量探测原理

　　二死元答基义夫势兴权、能量探测器组成与特性

　　三、能量探测器的逃逸峰

　　第三节 新型能量探测器

　　一、Ge探测器

　　二、Si?PIN探测器

　　三、Si漂移探测器(SDD)

　　四、电耦合阵列探测器(CDD)

　　五、超导跃变微热量感应器(TES)

　　六、超导隧道结探测器(STJ)

　　七、CdZnTe探测器

　　八、钻石探测器(CVD?D)

　敌妈北等鱼换金石引效功　九、无定形硅探测格学盐义座念却器(A?Si)

　　第四节 各种探测器性能比较

　　一、波长色散与能量色散能力

　　二、探测器分辨率比较

　　三、探测器的选用

　　参考文音入生宗依数江献

　　第五章 X荧光光谱仪

　　第一节 波长色散X射线荧光光谱仪

　　一、X射线光管、探测器与光谱仪结构

身的定导绝搞供较　　二、分光晶体及分辨率

　　三、脉冲放大器和脉高分析器

　　第二节 能量没色散X射线荧光光验种控谱仪

　　第三节 同位素源激发X射线荧光光谱仪

　　第四节 偏振激发X射线荧光光谱仪

　　第五节 全反射X射线荧光光谱仪

　　第六节 同步晶辐射X射线荧光光谱仪

　　第七节 者走依取白项聚束毛细管透镜微束另之从板XRF光谱仪

　　参谓建和角吸为内均真安考文献

　　第六章 定性与定量分析方法

　　第一节 定性分析

　　刚征名第二节 定量分析

　　一、获取谱峰净强度

坏组科看末　　二、干扰校正

　　三、浓度计算

　　第三节 数学校正法

　适罗　第四节 实验校正方法

　　一、标准化

　　二、内标法

　　三、标准添加法

　　四、散射线内标法

　　第五节 实验校正实例--散射线校正方法

　　一、散射效应与利用

　　二、滤光片对Compton峰和分析谱线的影响

　　三、准直器直径对谱线的影响

　　四、Compton峰位随滤光片材料的原子序数增加而产生漂移

　　参考文献

　　第七章基本校正71

　　第一节基本参数法72

　　一、理论荧光强度72

　　二、相关基本参数计算75

　　三、基本参数法76

　　第二节理论校正系数77

　　一、基本影响系数77

　　二、理论校正系数81

　　三、系数变换84

　　参考文献85

　　第八章分析误差和统计不确定87

　　第一节分析误差和分布函数87

　　一、分析误差87

　　二、分布函数88

　　第二节计数统计学88

　　第三节灵敏度、检出限及XRF中的误差来源89

　　一、灵敏度和检出限89

　　二、XRF中的误差来源90

　　第四节不确定度及不确定度计算90

　　一、测量不确定度90

　　二、统计不确定度91

　　三、误差传递与不确定度91

　　四、不确定度计算式92

　　五、平均值的不确定度计算93

　　六、统计波动94

　　参考文献94

　　第九章XRF中的化学计量学方法和应用96

　　第一节曲线拟合与遗传算法96

　　一、遗传算法97

　　二、遗传算法在XRF中的应用97

　　三、不同拟合方法的比较98

　　第二节基体校正与神经网络99

　　一、神经网络的发展与学习规则100

　　二、神经网络模型--误差反传学习算法100

　　三、神经网络及相关化学计量学方法在XRF中的应用101

　　第三节模式识别102

　　一、模式识别方法与特性102

　　二、支持向量机103

　　三、模式识别方法在XRF中的应用103

　　参考文献104

　　第十章样品制备107

　　第一节制样技术分类107

　　第二节分析制样中的一般问题109

　　一、样品的表面状态109

　　二、不均匀性效应110

　　三、样品粒度与制样压力110

　　四、X射线分析深度与样品厚度111

　　五、样品的光化学分解113

　　六、其他问题113

　　七、试样装入114

　　八、污染控制115

　　九、测定时须小心的样品116

　　第三节金属样品的制备116

　　一、取样116

　　二、金属样品的制备方法117

　　第四节粉末样品的制备118

　　一、粉末压片法118

　　二、玻璃熔片法121

　　三、松散粉末法126

　　第五节液体样品127

　　一、液体法128

　　二、点滴法129

　　三、富集法129

　　四、固化法130

　　第六节其他类型样品的制备130

　　一、塑料样品的制备方法130

　　二、放射性样品131

　　第七节微少量、微小样品的制备131

　　第八节低原子序数元素分析的特殊问题133

　　第九节样品制备实例134

　　一、全岩分析134

　　二、石灰、白云石石灰和铁石灰138

　　三、石灰石、白云石和菱镁矿139

　　四、天然石膏及石膏副产品140

　　五、玻璃砂142

　　六、水泥144

　　七、氧化铝145

　　八、电解液146

　　九、煤衍生物--沥青147

　　十、树叶和植物149

　　参考文献150

　　第十一章X射线荧光光谱仪的特性与参数选择153

　　第一节波长色散型X射线荧光光谱仪的特性与技术进展153

　　第二节X射线高压发生器154

　　第三节X射线光管特性与选择使用154

　　第四节滤光片、狭缝和准直器156

　　第五节晶体适用范围及其选择157

　　第六节2θ联动装置161

　　第七节测角仪161

　　第八节探测器特性与使用162

　　一、闪烁计数器163

　　二、气体正比计数器163

　　三、探测器的选择标准165

　　第九节脉冲高度分析器166

　　第十节实验参数的选择169

　　一、仪器参数的选择169

　　二、光学参数的选择170

　　三、探测器与测量参数的选择172

　　第十一节能量色散XRF光谱仪的特性和注意事项173

　　第十二节全反射X射线荧光光谱仪特性与设计要点174

　　参考文献175

　　第十二章仪器检定、校正与维修176

　　第一节仪器检定176

　　一、实验室条件176

　　二、检验项目及测量方法176

　　三、技术指标178

　　第二节脉冲高度分析器的调整及仪器漂移的标正179

　　一、脉冲高度分析器的调整179

　　二、仪器漂移的校正180

　　第三节日常维护180

　　一、真空泵油位检查180

　　二、P10气体的更换181

　　三、高压漏气检测181

　　四、密闭冷却水循环系统的检测181

　　五、检查初级水过滤器182

　　六、X射线光管的老化182

　　七、日常检查项目182

　　第四节常见故障及维护182

　　一、机械问题183

　　二、X射线高压发生器183

　　三、真空度不好183

　　四、探测器的故障184

　　五、样品室灰尘的清扫184

　　第五节仪器选型常用标准与判据185

　　一、硬件185

　　二、软件185

　　参考文献188